El proyecto EYON permite detectar robos hormiga dentro del locales comerciales, así como llevar un registro de rostros de personas que cometan actos delictivos de forma reincidente a través de cámaras de seguridad.
Un novedoso proyecto de seguridad para locales comerciales es el que proponen seis estudiantes de Ingeniería Civil Informática de la Universidad Técnica Federico Santa María al desarrollar una aplicación que, a través del uso de inteligencia artificial, busca combatir los robos hormiga.
Se trata de EYON, un software que registra los rostros de personas que cometen delitos de manera reiterada a través de cámaras de seguridad, generando así una base de datos que puede ser compartida por los administradores de los negocios a fin de resguardar sus espacios de trabajo.
“Este proyecto fue pensado para apoyar y mejorar la eficacia de las tareas de vigilancia”, comenta Ignacio Alvarado, uno de los miembros del proyecto que desarrolla junto a sus compañeros Christopher Morales, Diego Varela, Juan Cáceres, Jorge Moreno y Sebastián Jofré, y cuya motivación dicen nació “tras observar diferentes problemáticas que afectan al país”.
Según explican los jóvenes de la pre-empresa Fenneco Team, “más del 50% de los locales comerciales han sido víctimas de algún delito dentro del último año”, y es la razón por la cual optaron por desarrollar un sistema que permite identificar estas acciones delictivas que, como relatan, “suelen ser reconocibles a través del tiempo por su reincidencia”.
Considerando además que los delincuentes suelen migrar a otros locales cuando son identificados, EYON permitirá saber en cuanto entren a un nuevo negocio que estos han robado previamente en otros lugares.
“Nuestro proyecto podría significar un impacto positivo frente a dicha problemática, agilizando la detección de aquellos delincuentes recurrentes y estar así, a un paso adelante de estos”, concluyen los sansanos, que presentarán su proyecto en la próxima Feria de Software, a desarrollarse el 10 de noviembre en el Campus San Joaquín de la USM.